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美國(guó)GE測(cè)厚探頭DA305
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：DA305 加工定制：否 用途：適合于壁厚測(cè)量 是否進(jìn)口：是 加工定制：否 美國(guó)GE測(cè)厚探頭DA305
美國(guó)GE測(cè)厚探頭 用于壁厚測(cè)量的探頭，特別地與我們的數(shù)字測(cè)厚儀相匹配。測(cè)厚儀 量程 [mm] 短號(hào)碼 [訂購(gòu)號(hào)碼] 接觸面積Ø [mm] f [MHz] 溫度 [℃] 電纜 備注 DM4.. 1.2-200
0.6-50DA301
DA31212.5
7.55
1020 +60
-20 +60DA231
DA2355-300
7-60DA303
DA0.8G17
292
0.8-20 +60
-10 +60DA231
DA2312-80
1.0-15
5-150
4-60
1-50DA317
DA319
DA315
DA305
HT40012.5
7.5
17
16
135
10
2
5
525 +300
25 +300
25 +300
10 +600
-10 +540DA233
DA233
DA233
DA235
KBA535短時(shí)間接觸 0.6-20
0.7-12DA312B11 DA312B16 4
310
10-20 +60
-20 +60固 定 1 . 5 米 電 纜 對(duì)話技術(shù) 1.2-200
0.6-50DA401
DA41212.5
7.55
10-10 +60
-10 +60DA231
DA2355-300
7-60DA403
DA40817
292
0.8-10 +60
-10 +60DA231
DA231
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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