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美國GE高頻直探頭IA50.3IA-..50.3
詳細(xì)信息品牌：美國GE 型號(hào)：IA-..50.3 加工定制：否 用途：適合于壁厚測(cè)量 是否進(jìn)口：是 加工定制：否 美國GE高頻直探頭IA50.3
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號(hào)。
*) 訂購號(hào)碼中的".."是用于根據(jù)需要進(jìn)行的設(shè)計(jì)，填入下面的字符：F表示是帶UHF連接器的牢固的殼體；FM表示是帶Microdot連接器的輕便的殼體。類型
[訂購號(hào)碼]D [mm] f [MHz] F [mm] AB6/1 [mm] N / FD6 1) [mm] 聲束形狀
編號(hào)草圖 點(diǎn)聚焦，帶UHF或Microdot連接器 *)；特性帶寬：100% IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.23
3
5
5
3
3
3
5
525
25
25
25
50
50
50
50
509.4-20.6
16-60
20-35
34.5-100
6.6-8.4
10.6-15.8
18.5-41
21.5-29
40-7112.5
25
25
50
7.5
12.5
25
25
500.25
0.49
0.30
0.59
0.07
0.12
0.25
0.15
0.30-
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-類型F
或
類型FM非聚焦，帶UHF或Microdot連接器 *)；特性帶寬：100% IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.33
5
3
525
25
50
5017-86
45-227
33-170
89-45536
99
71
1980.7
1.2
0.7
1.225-3
25-5
50-3
50-5類型F
或
類型FM
1) 請(qǐng)注意第5頁上的定義。附件描述 類型 備注 探頭電纜：
Microdot / BNC
適配器：
BNC插座/ Lemo插頭探頭電纜：
UHF/BNC適配器PKI-S0.75
PKLB1
PKIB0.75
ANP21用于
IA(P)-FM 25/50
用于PKIS..和PKIB..
用于帶UHF和BNC的IA(P) -
F25/50伸縮管
應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡(jiǎn)單的大型工件檢測(cè)
•鍛件、坯料檢測(cè)
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測(cè)
功能特和優(yōu)勢(shì)
•歐式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長(zhǎng)探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無限期延長(zhǎng)探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測(cè)。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝
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- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
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計(jì)量測(cè)試儀
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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