美國GE水密封體直探頭L2N
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
L2N |
| 品 牌： |
美國GE |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-06-03 |
| | 品牌：美國GE | | 型號(hào)：L2N | | 加工定制：否 | |
| | 用途：適合于壁厚測(cè)量 | | 是否進(jìn)口：是 | | 加工定制：否 | |
美國GE水密封體直探頭L2N
主要用途：
通常：通過一個(gè)水延遲通道，以可能*好的測(cè)試結(jié)果復(fù)現(xiàn)性，實(shí)現(xiàn)流水線或大批量生產(chǎn)零件的小缺陷和*小缺陷以及有缺陷材料組織的半自動(dòng)和全自動(dòng)測(cè)試。
特性：極好的分辨率和非常好的缺陷探測(cè)性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號(hào)。
類型
[訂購號(hào)碼] |
D [mm] |
f [MHz] |
AB [mm] |
N F [mm] / |
近場(chǎng)分辨率1)
[mm] |
聲束形狀
編號(hào) |
備注 |
草圖 |
| 缺陷探測(cè)的高分辨率探頭，UHF插座，特性帶寬：80% |
IA5.8
IAP5.12.6
IAP10.6.3
IAP15.6.2 |
12.7
19
9.5
9.5 |
5
5
10
15 |
60-190
115-225
55-130
40-65 |
130
150
75
50 |
ZYB 0.5Ø in 3
ZYB 0.5Ø in 1.5
FBB 0.4Ø in 1.3
FBB 0.4Ø in 1.0 |
5-12.7
-
-
- |
點(diǎn)聚焦
點(diǎn)聚焦
點(diǎn)聚焦 |
類型39
類型40
類型39
類型39 |
| 帶固定電纜的沖擊波探頭，特性帶寬：100% |
H1N
H2N |
20
20 |
1
2 |
28-156
50-267 |
64
127 |
FBB 5Ø in19
FBB 2Ø in13 |
1-20
2-20 |
|
類型36 |
H2K
H5K
H10K |
10 |
2
5
10 |
14-77
34-190
68-380 |
32
80
160 |
FBB 2Ø in6.5
FBB 2Ø in4
FBB 2Ø in2 |
2-10
5-10
10-10 |
|
類型37 |
H5M
H10M
H10MP15
H10ML15 |
5 |
5
10
10
10 |
8-52
16-104
10-23
10-23 |
20
40
15
15 |
FBB 2Ø in3
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.5 |
5-5
10-5
-
- |
點(diǎn)聚焦
線聚焦 |
類型38 |
| 帶固定電纜的寬帶探頭，特性帶寬：80% |
L1N
L2N
L2K
L4K
L5K
L5M |
20
20
10
10
10
5 |
1
2
2
4
5
5 |
28-156
50-264
14-77
28-154
34-190
8-52 |
63
127
32
64
80
20 |
FBB 2Ø in24
FBB 2Ø in12
FBB 2Ø in6
FBB 2Ø in5
FBB 2Ø in3.5
FBB 2Ø in2.5 |
1-20
2-20
2-10
4-10
5-10
5-5 |
|
類型36
類型36
類型37
類型38 |
所有探頭都有點(diǎn)聚焦或線聚焦形式（請(qǐng)注明焦距）。其它設(shè)計(jì)根據(jù)要求確定。
1) 注意第5
| 附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭電纜（2米）
H..K進(jìn)行接觸測(cè)試
的延遲線
耦合帽 |
PKI2
承索 |
用于IA..和IAP..
承索
對(duì)于干耦合見36頁 |
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
