當前位置：
深圳市泰立儀器儀表有限公司 >
產品中心 >
工業無損檢測 > 美國GE水密式直探頭Z10M
美國GE水密式直探頭Z10M
| 產品型號： |
Z10M |
| 品 牌： |
美國GE |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-06-03 |
| | 品牌：美國GE | | 型號：Z10M | | 加工定制：否 | |
| | 用途：用于檢測小缺陷 | | 是否進口：是 | | 加工定制：否 | |
美國GE水密式直探頭Z10M
美國GE水密式直探頭 Z..N、Z..K和Z..M：有高增益儲備的探頭，用于測試具有增強的聲波衰減特性而對分辨率沒有過高要求的中小型尺寸物體。主要的應用領域是塑料合成材料（如蜂巢和多層結構）、鍛件（如軸、盤和桿），還有焊接結構（如齒輪和離合器部件）和軋制的鋼制品（如棒、鐵軌、金屬板）。
美國GE水密式直探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力
特性：高的增益儲備
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
類型
[訂購號碼] |
D [mm] |
f [MHz] |
AB6/11)
[mm] |
N [mm] |
F [mm] |
近場分辨率
FBH [mm] |
聲束形狀
編號 |
備注 |
草圖 |
| 帶固定電纜的大殼體；特性帶寬：40% |
Z1N
Z2N
Z4N
Z5N |
20 |
1
2
4
5 |
28-156
50-267
100-534
127-668 |
64
127
254
318 |
|
5Ø in28
2Ø in19
2Ø in9.6
2Ø in8 |
1-20
2-20
4-20
5-20 |
可拆卸環 |
類型33 |
| 帶固定電纜的中等尺寸殼體；特性帶寬：40% |
Z2K
Z4K
Z4KP20
Z4KL20
Z5K
Z10K |
10 |
2
4
4
4
5
10 |
14-77
28-154
15-32
15-32
34-190
68-380 |
32
64
80
160 |
20
20 |
2Øin9
2Øin6.5
2Øin6.0
2Øin6.0
2Øin5
2Øin4 |
2-10
4-10
-
-
5-10
10-10 |
可拆卸環
點聚焦
線聚焦 |
類型34 |
| 帶固定電纜的小尺寸殼體；特性帶寬：40% |
Z5M
Z10M
Z10ML15
Z10MP15
Z15M |
5 |
5
10
10
10
15 |
8-52
16-104
10-23
10-23
24-156 |
20
40
60 |
15
15 |
2Øin3
2Øin2
2Øin2
2Øin2
2Øin1.6 |
5-5
10-5
-
-
15-5 |
線聚焦
點聚焦 |
類型35 |
根據用戶需要提供其它頻率、單元尺寸或設計的探頭
1) 請見第5頁中的定義。
| 附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭Z..K進行接觸測試的延遲線
耦合帽 |
承索 |
承索
對于干耦合見36頁 |
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
